НИИЭТ впервые представит новый испытательный стенд СИТ Д-30

В рамках обширной выставочной экспозиции состоится презентация современного оборудования, которое позволит научно-исследовательскому институту электронной техники продемонстрировать передовые разработки в сфере тестирования микросхем и электронных компонентов.

Испытательный стенд СИТ Д-30 — один из представителей флагманской линейки испытательных стендов, предназначенный для проведения отбраковочных испытаний и испытаний ЭКБ на надежность, — говорит Павел Пармон, директор по качеству АО «НИИЭТ» 

Ключевой характеристикой стенда является обеспечение высокого качества испытаний, которое достигается благодаря контактному методу термостатирования с помощью теплоотводящих пластин с жидкостным теплообменом. Теплоотводящие пластины контактируют с верхней поверхностью корпуса компонента, и излишнее тепло отводится посредством теплоносителя (хладагента), циркулирующего во внутреннем контуре.

Предусмотрено обеспечение контроля температуры каждого изделия в отдельности.

Разработанное оборудование позволит проводить испытания не только дискретных силовых компонентов, но и сборок, модулей и микросхем.

Павел Пармон подчеркивает: Испытательное  оборудование НИИЭТ отличается высоким уровнем надежности, точности измерений и удобства эксплуатации. Его использование позволяет существенно сократить затраты на разработку и производство электронных устройств, повысить качество продукции и ускорить выход новых изделий на рынок.

Презентация отечественного испытательного оборудования, уверенны разработчики, привлечет внимание участников мероприятия и создаст условия для активного сотрудничества отраслевых производителей и потребителей.